白金的性質

之間的函數。並透 過該製程能力指標來評估製程能力之好壞。舉被使用很普遍的二個第—代製程能力指標G，Cpk為例，其公式分別如下所示：
門 USL - LSL Cp = ^—其中t/SX為上限規格（upper specification limit) ； L5X為下限規格 (lower specification limit)，T 為製程中之某特定目標值（target value)。
與Oakland (1990)亦指出製程能力指標是品質改進中重 要的測量方法。因此，吾人可以將製程能力分析當做是估計製程能力 的一種工程研究，而製程能力的估計可用機率分配的形態、位置（平 均）及離散（標準差）來表示。
由於該指標並沒有考慮到由於製程移動而評估出來的製程能 力應有所不同的缺失。造成這樣的現象乃是由於指標並沒有將製 程平均考慮到製程能力指標裡。所以，Kane (1986)提出製程能力指 標Cpk，將製第17章統計品質管制已超出規格了，卻仍然評估不出來該製程是如

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